觸屏數(shù)控高低溫冷熱沖擊試驗箱應用原理

觸屏數(shù)控高低溫冷熱沖擊試驗箱應用原理

產(chǎn)品簡介：

 本系列產(chǎn)品根據(jù)試品使用的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊。既可作冷熱沖擊試驗，也可作單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選等，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。

產(chǎn)品標準：

《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N：溫度變化試驗方法》GB2423.22-93 

《溫度沖擊試驗》GJB 150.5-86 

《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87 

《高溫試驗箱技術(shù)條件》GB 11158-2008

《低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10589-2006

《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB 10592-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A: 低溫》GBT 2423.1-2008

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B：高溫》GBT 2423.2-2008

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細節(jié)及優(yōu)惠價格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進行定制